摘要：為了了解工序在穩(wěn)定狀態(tài)下的實際加工能力，即在操作者、機器設(shè)備、原材料、操作方法、測量方法和環(huán)境等標準條件下，工序呈穩(wěn)定狀態(tài)時所具有的加工精度,這時我們一般會通過CP、 CPK 、PP以及PPK等參數(shù)作為一個評斷標準.

CP
Cp：過程能力，僅適用于統(tǒng)計穩(wěn)定過程，是過程在受控狀態(tài)下的實際加工能力，不考慮過程的偏移，是過程固有變差（僅由于普通原因產(chǎn)生的變差）的 6σ范圍，式中σ通常用 R-bar/d2或者s-bar/c4來估計。所以過程能力是用過程在受控狀態(tài)下短期數(shù)據(jù)計算的。因此又將過程能力稱為“短期過程能力”，實際中常將短期省略。這個指數(shù)只是針對雙邊公差而計算的，對于單邊公差沒有意義。計算公式為:CP=(USL-LSL)/ 6σ.

CPK
CPK：過程能力指數(shù)，是在過程有偏移情況下的過程能力，前提是要過程穩(wěn)定且數(shù)據(jù)是正態(tài)分布，而且數(shù)據(jù)應該在 25組以上（建議最少不要低于 20組，數(shù)據(jù)組越少風險越大），只考慮過程受普通原因的影響。因為過程只受到普通原因變差影響是理想狀態(tài)下的，從長期來說過程總會受到各種特殊原因的影響，所以又被稱為短期過程能力，也叫潛在過程能力。CPK通過 CPU或 CPL的最小值來計算，計算公式:CPU=(USL-X-bar)/3σ和 CPL=(X-bar-LSL)/3σ.也可以直接利用太友科技 CPK計算工具 來計算(免費),特點:
•簡單方便地進行CPK的計算；
•方便地輸入需要進行計算CPK的數(shù)據(jù)；
•也可從其它文件中復制數(shù)據(jù)到CPK分析工具中，如從電子表格中復制數(shù)據(jù)；
•分析數(shù)據(jù)文件可方便地保存，需要時可直接打開進行計算；
•可對分析數(shù)據(jù)導出打印功能等.

PP
Pp：過程性能，是過程長期運行的實際加工能力，過程總變差（由子組內(nèi)和子組間二種變差所引起的變化，如果過程處于不受控狀態(tài)，過程總變差將包括特殊原因和普通原因）的 6σ范圍，式中 σ通常用則稱x服從均數(shù)為μ，標準差為σ2的正態(tài)分布。樣本的標準差 s來估計。此時不考慮過程是否受控。因此過程性能也稱長期過程能力，也叫性能指數(shù)。計算公式 Pp=(USL-LSL)/6s

PPK
PPK ：過程性能指數(shù)，因為計算不需要過程穩(wěn)定（因為在計算公式中已經(jīng)考慮了普通和特殊兩種原因的影響），所以在 PPAP手冊中要求在產(chǎn)品進行試生產(chǎn)過程不穩(wěn)定時（此時過程受兩種原因影響）用 PPPK衡量過程能力，要求PPK>=1.67 才能進入量產(chǎn)階段，所以又把PPK稱為初期能力指數(shù)。PPK通過 PPU或 PPL的最小值來計算，計算公式 PPU=(USL-X-bar)/3s和 PPL=(X-bar-LSL)/3s

    很多公司由于對 過程能力 的一知半解，往往只要求計算CPK的指數(shù)來衡量過程能力是否足夠，事實上進入正常生產(chǎn)后應該通過 Cp\CPK\PPK三個指數(shù)之間的差別來判斷過程是否有問題，如果有問題是管理上還是技術(shù)上有問題，Cp>1.33表明過程變差比較小，此時還要看CPK,當Cp和CPK相差很大時表明過程有較大的偏移,需要做居中處理，再比較 CPK和 PPK，如果兩者相差不大表明受特殊因素的影響小，如果兩者相差很大表明受特殊因素的影響很大，特殊因素的影響往往比較容易找到。如果 Cp值本身就很小那說明過程受普通因素的變差影響大，此時若想提升過程能力往往需要更多的投入和更高的決策才能使問題得到解決。所以即使有時候 CPK值很高( 比如大于 2) ,如果其與 Cp\PPK相差較大的話還是需要對過程進行改進。